利用多阶谐振频率对多层结构背覆薄层厚度的反演
Thickness inversion of a thin film under a multi-layered system with multi-mode resonance frequencies
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摘要: 利用超声在固体表面镀层、界面胶层的反射和透射现象研究这些薄层的参量是无损评价的热点问题之一,因此产生了许多的理论模型和实验方法,比如Lavrentyev和Roklin1采用垂直入射与斜入射相结合的方法对钢衬板上的薄胶层进行评价;毛捷与王小民2等则通过分析单层板背覆薄层的低频谐振特性反演出薄层厚度等。
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